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TSY-35型塑料薄膜和薄片测厚仪

  • TSY-35型塑料薄膜和薄片测厚仪简介:
    TSY-35型塑料薄膜和薄片测厚仪用于塑料薄膜,薄片的厚度测试,还可适用于纸张,纸板的厚度测试,箔片,硅片,固体电绝缘体的厚度测试.
  • 咨询热线:022-60272887
  • 产品详情

    TSY-35型塑料薄膜和薄片测厚仪
     

    TSY-35型塑料薄膜和薄片测厚仪
    薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试,还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测、试纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测试。
    产品参数:
    1、分度值0.001mm 量程0-1mm
    2、上下测量面为平面时,测量面对试样施加的负荷为0.5N到1.0N之间。
    3、上下测量面为凸/平面时,上测量面的曲率半径在15-50(mm)时,其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间。
    4、测量精度
        100um以内 精度1um
        100um到250um 精度2um
         250um以上 精度3um